產品介紹

平面CT專業用于檢測和分析板狀結構器件內部質量與結構情況，適用于PCB、BGA、SMT，集成芯片等器件和加工工藝的質量評定和分析。重構出掃描三維斷層圖像，實現對板狀器件缺陷的空間定位，以及逆向生成電路板CAD設計。

檢測對象

印刷電路板、電子與機械、模塊、機電、組件和插頭，半導體封裝與互連、微系統、傳感器、執行器、MEMS和MOEMS。

主要參數

●管電壓：160kV或225kV

●管類型：開放式微焦點射線管

●發射方式：透射式

●靶材：鎢靶

●JIMA分辨率：最 佳可達0.5μm

●掃描方式：平面掃描

●探測器：數字平板探測器